随着新能源汽车半导体功率电子国产化的发展，广电计量引进国际的测试技术，基于LV/AQG324认证标准，为功率半导体产业上下游企业提供功率?？榈缪阅芗觳?，材料、器件与系统的可靠性测试以及失效分析。技术革新带来了验证技术新的挑战，广电计量以LV/AQG324认证试验为基础，积极布局第三代半导体功率?？榈目煽啃砸滴窳煊?，助力器件国产化、高新化发展。
测试周期：
2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务
服务内容：
广电计量失效分析实验室功率器件技术团队，拥有丰富的功率半导体器件检测，器件可靠性测试，以及可靠性测试设备设计制造的经验，可为您提供电学参数检测，可靠性测试，失效分析及定制化服务。
产品范围：
适用于MOSFET，Diode，IGBT，第三代半导体器件等元件构成的功率?？椤?span>
测试项目：
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序号 |
测试项目 |
缩写 |
样品数/批 |
测试方法 |
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1 |
Thermal shock test |
TST |
6 |
IEC 60749-25 |
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2 |
Vibration |
V |
6 |
DIN EN 60068-2-6 |
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3 |
Mechanical shock |
MS |
6 |
DIN EN 60068-2-27 |
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4 |
Power cycling |
PCsec |
6 |
IEC 60749-34 |
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5 |
Power cycle |
PCmin |
6 |
IEC 60749-34 |
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6 |
High-temperature storage |
HTS |
6 |
IEC 60749-6 |
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7 |
Low-temperature storage |
LTS |
6 |
JEDEC JESD-22 A119 |
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8 |
High-temperature reverse bias |
HTRB |
6 |
IEC 60747-9 |
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9 |
High-temperature gate bias |
HTGB |
6 |
IEC 60747-9 |
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10 |
High-humidity, high-temperature reverse bias |
H3TRB |
6 |
IEC 60749-5 |
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11 |
Determining parasitic stray inductance |
Lp |
6 |
IEC 60747-15 |
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12 |
Determining thermal resistance |
Rth |
6 |
DIN EN 60747-15 |
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13 |
Determining short-circuit capability |
/ |
6 |
/ |
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14 |
Insulation test |
/ |
6 |
/ |
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15 |
Determining mechanical data |
/ |
6 |
/ |
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